JEM-F200

      JEM-F200 是一款场发射透射电子显微镜，具有更高的空间分辨率和分析性能，以及直观的用户界面，可实现多用途操作。

特征
从高到低加速电压的高分辨率 TEM/STEM 观察
JEM-F200 提供冷场发射电子枪，可确保高稳定性、高亮度和高能量分辨率 （<0.33 eV）。
该电子枪通过最大限度地减少源自电子源能量传播的色差，有效地实现了更高分辨率的成像。
此外，通过将 JEOL 10+ 年的专业知识融入设计中，我们显著提高了机械和电气稳定性。

高通量和高精度 EDS 分析
JEM-F200 可同时配备两个大面积硅漂移探测器 （SDD），提供高灵敏度分析。
大面积和高灵敏度可在很短的时间内实现高效的 EDS 分析，同时减少损伤。
此外，在 EDS 映射期间通过实时 STEM 图像进行高速、无损的漂移校正，可实现高效测量，同时减少电子束对样品的损伤。

具有高能量分辨率的 EELS 分析
JEM-F200 的 CFEG 可以以高能量分辨率获得化学键态和电子结构的分析，超过了肖特基场发射电子枪的能力。
这是通过将保证高能量分辨率 （<0.33 eV） 的冷场发射电子枪与 EELS（选件）相结合来实现的。

操作简单，即使对于初学者来说压力最小
JEM-F200 配备了直观的用户界面，强调用户友好性。
它为 TEM 和 STEM 提供了全面的自动功能，使初学者易于操作。
为了便于轻松插入和取出样品架，还集成了 SPECPORTER™，可实现安全、自动的样品架插入。
此外，样品台配备了 Pico 平台驱动器，无需压电驱动机构即可实现精确的皮米级运动。
这允许进行广泛的视场调整，从整个样品网格到原子级成像。

自动功能
自动增益和偏移→ 自动对焦→ 自动散光校正

从 FIB 样品制备到 TEM/STEM 成像的无缝工作流程
双倾斜柱和专用的 TEM 支架有助于 TEM 和 FIB 操作之间的连接。
只需轻轻一按，即可在 FIB 支架和 TEM 样品架之间轻松转移，无需在处理后处理 TEM 薄片。

透射电子显微镜实现可持续发展的社会
JEM-F200 是第一台标准采用 ECO 模式的透射电子显微镜。此模式可在不使用期间以最低的能耗有效地维护仪器，从而节省能源。
激活 ECO 模式可将能耗降低到正常运行期间的五分之一左右，为更可持续的社会做出贡献。
此外，它还具有调度功能，允许仪器在指定的日期和时间从 ECO 模式返回到可用状态。

材料：Si [110] 高分辨率 STEM

·显微镜：带 CFEG 的 JEM-F200 HR 极片

·条件：200kV，STEM

材质：单层 MoS2表

·样品：单层 MoS2表

·显微镜：带 CFEG 的 JEM-F200 HR 极片

·条件：200kV，STEM

生命科学：ABS 聚合物在 80kV 下的 TEM 图像

·样品：ABS 聚合物

·显微镜：带 CFEG 的 JEM-F200 HR 极片

·条件：80kV，TEM

·样品制备：切片机

材质：SrTiO3/双 SDD

·样品：SrTiO3